ge超聲波探傷儀usmgo

• 更新日期：2024-10-29

ge超聲波探傷儀usmgo是GE產品中Z輕和Z易便攜的超聲波探傷儀。它專門用于石油和天然氣、航空航天、發(fā)電和汽車行業(yè)中Z苛刻的檢測環(huán)境下的長時間簡便操作。

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　　USM Go是GE產品中zui輕和zui易便攜的超聲波探傷儀。它專門用于石油和天然氣、航空航天、發(fā)電和汽車行業(yè)中zui苛刻的檢測環(huán)境下的長時間簡便操作。

　　ge超聲波探傷儀usmgo

　　USM Go是GE產品中zui輕和zui易便攜的超聲波探傷儀。它專門用于石油和天然氣、航空航天、發(fā)電和汽車行業(yè)中zui苛刻的檢測環(huán)境下的長時間簡便操作。

　　A-掃描凍結模式功能(用于閘門A和閘門B)便于在苛刻的條件下工作。

　　所有參數的簡易列表可以打印出來。

　　SD卡上的簡易目錄管理。

　　嵌入式的菜單定制工具可以適應2個用戶級別的菜單結構。

　　每年校準提醒，有效地進行質量管理。

　　智能注釋功能，提高報告的有效性。

　　可選的功能 底面回波衰減器(BEA)有助于發(fā)現非常小的缺陷，提高檢測能力。

　　兩個閘門的自動閥值功能在同等條件下確保測量結果的準確性。

　　錄像長達8分鐘，可以現場(動態(tài))報告。

　　顯示測量指標——振幅和距離，以減少出錯率。

　　回波渡越時間精確到微秒。

　　兼容trueDGS。

　　ge超聲波探傷儀usmgo/可升級

　　現有的USM Go客戶均可訪問USM Go測試儀的所有新功能。

　　USM Go可以升級，包括其眾多的特性/功能。特性/功能也可以以后添加。參見以下USM Go系列圖表。

　　生產率

　　USM Go測試儀操作直觀，因此幾乎不需要花費時間辨別曲線。從使用它的那一刻起，您的生產率就已經提高了!使用成熟的圖形用戶界面(GUI)和創(chuàng)新的操縱桿簡化導航程序，允許單手操作，并快速、準確地調整。其他生產率功能包括：

　　自動校準

　　Auto 80

　　同步閘門功能

　　堅固的結構

　　堅固的模壓橡膠外殼可以承受zui惡劣的環(huán)境，并顯著減少停機時間。

　　IP67浸入測試(P67/IEC529 - 防塵/防淋水，符合IEC529關于IP67分類的規(guī)定)

　　墜落測試(514.5 程序 II; 516.5 程序 IV)

　　振動測試(Mil-Std-810F; 514.5-5 程序 I, 附件 C)

　　人體工程學

　　USM Go超聲波便攜式探傷儀符合人體工程學設計，重量輕，體積小，易于在zui苛刻的檢測環(huán)境中使用。

　　用于難以進入地區(qū)時，可以zui小化外殼尺寸

　　優(yōu)化的顯示尺寸，提高可讀性和回波分離，兩個相鄰回波分得開

　　安全的單手操作

　　重量輕(850克/1.87鎊)

　　集成支架

　　可使用在普通的攝像機和工業(yè)三腳架上

　　主要的控制鍵：增益、自由定義鍵

　　“翻轉”功能允許慣用左手和慣用右手的人都可以自如地使用儀器。

　　極大提高EN 583-2的定量能力。

　　連接性

　　標準的USB連接允許從探傷儀上下載數據，作進一步分析或存儲。該儀器標配2GB的SD記憶卡(zui多可支持16GB內存卡)。

　　報告以JPEG或BMP格式生成，所以不需要專門的閱讀軟件。

　　簡單的機載數據記錄器收集和保存厚度測量數據。

　　UT檢測能力

　　*獲得的幻象波去除(Phantom echo)指示器選項：由于脈沖往復回波衰減低和脈沖重復頻率過高，回波會在屏幕上閃爍。

　　如需詳細信息，請參見應用部分

　　USM Go旨在提供缺陷檢測，用于各個行業(yè)和過程頻譜，如航空航天、發(fā)電和汽車行業(yè)，以及石油和天然氣行業(yè)。

　　焊縫檢驗

　　三角函數預測

　　計算表面到反射體的深度、幅值(amp)和聲程

　　曲率校正(校正徑向檢測時的投影位置)

　　彩色路徑(在設置好壁厚后，系統(tǒng)會自動根據探頭角度和工件厚度分出一次波區(qū)域，二次波區(qū)域，三次波區(qū)域等，不同區(qū)域有不同的背景顏色)

　　AWS

　　依據AWSD1.1結構焊接標準代碼自動評級

　　DAC

　　可以依據EN ISO 17640、11666和23279調整三條曲線的dB值

　　DGS

　　可以依據EN 1712調整大小

　　依據EN 583-2，顯著提高尺寸調整能力

　　鍛件

　　手動PRF調整

　　幻象波(Phantom echo)去除

　　DGS

　　底面回波衰減器

　　fuhecailiao

　　射頻顯示

　　A門電路回波觸發(fā)的2門電路與B-啟動

　　用于120dB/μs高衰減材料的TCG校準

　　鋼軌

　　高PRF(高達2000赫茲)

　　重量輕(850克/1.87鎊)

　　尺寸小，符合人體工程學

　　附件(符合人體工程學的套件：手腕附件、胸前附件、肩帶)。

　　LCD

　　有效面積 寬：108毫米(4.25英寸)x高：64.8毫米(2.55英寸) 尺寸 5.0” 像素分辨率 800(寬)x480(高)點

　　連接器

　　探頭連接器 2個LEMO-00 UT 輸出連接器 SAP輸出，報警 USB接口 Mini USB連接器 SD-卡連接器 標準尺寸SD卡插槽，可容納標準SD卡

　　脈沖發(fā)生器 -

　　所有脈沖發(fā)生器測量均遵循 EN12668 規(guī)格進行。

　　脈沖模式 模擬尖峰標準，單相位可調方波

　　可選 脈沖電壓(SQ模式) 120伏到300伏，以10伏為步進，誤差允許在10%內 脈沖寬度(SQ模式) 30ns到500ns，以20ns為步進，誤差允許在10%內 脈沖振幅(尖峰信號模式) 低：120伏，高：300伏 阻尼 50或1000歐姆 PRF 在15赫茲到2000赫茲之間自動優(yōu)化，3種自動調整模式：AutoLow、Auto Med、

　　AutoHigh - 可選PRF的“幻象波去除”手動控制，從15到2000赫茲

　　接收器

　　范圍 縱波zui大穿透14016mm鋼板(557英寸) 數字增益 動態(tài)范圍為 110 dB，其中步進為 0.2 dB 模擬帶寬 0.2兆赫 - 20兆赫 檢波 寬帶

　　1-5兆赫

　　2, 2.5兆赫

　　4, 5兆赫

　　10兆赫

　　閘門

　　獨立閘門 2 個閘門(A 和 B)，閘門 B 支持通過閘門 A 觸發(fā) 濾波器 正半波(POS)全波(FW)負半波(NEG)RF(檢波) 測量值 波峰 波側 Jflank

　　內存

　　容量： zui大支持16GB的SD卡(標配2GB SD卡) 報告 JPG或BMP的文件格式報告。UltraMATE兼容的數據記錄文件。

　　環(huán)境

　　電池 5.5小時

　　機器上直接充電

　　使用可選適配器座充充電

　　比例電池電量計指示剩余的工作時間 充電器 “通用”交流(100-240伏,，50-60赫茲)

　　符合CCC、CE、UL、CSA和PSE的要求 尺寸 175毫米×111毫米×50毫米 重量 845克(1.87磅)，含電池

　　依據MIL-STD-810F防護

　　濕熱和濕度(存儲) 10 個周期：60°C(140°F)到30℃(86°F)時，10小時;

　　30℃(86°F)到60°C(140°F)時，10小時;過渡

　　2小時內，507.4 溫度沖擊(存儲) 3 個周期：-20°C(-4°F)到60°C(140°F)時，4小時;

　　60°C(140°F)時，4小時;在5分鐘內過濾，

　　503.4 程序 II 振動 514.5-5 過程 I，附錄 C，圖 6，

　　常規(guī)暴露：每軸1小時 沖擊 每軸6圈，15克，11毫秒半正弦波，

　　516.5 程序 I 松散貨物(集裝箱運輸) 514.5 程序 II 運輸跌落(打包以便運輸) 516.5 程序 IV, 墜落26點 操作溫度范圍 0°C 到 55°C (32 到 131°F) 存儲溫度范圍 -20°C 到 60°C (-4 到 140 °F)帶電池，24小時 防塵/防

　　水滴 符合IEC 529關于IP67分類的規(guī)定 合規(guī)性 EMC/EMIEN 55011EN61000-6-2:2001超聲波EN 12668ASTM E1324E317ANSI/NCSL Z 540-1-1994MIl STD 45662AMIL STD 2154

　　接收器

　　USM Go AWS選項 AWS尺寸調整工具，符合AWS D1.1 結構焊接規(guī)范 USM Go Dac選項 Dac尺寸調整工具16點符合EN 1712- EN 1713 – EN 1714ASME & ASME IIIJIS Z3060規(guī)定TCG:120 dB動態(tài) TCG:110 dB/毫秒斜率 USM Go DGS選項

　　DGS尺寸調整工具，符合EN 1712

　　包括新trueDGS技術

　　USM Go Dac選項嵌入式數據記錄器選項 自定義的線性和網格文件創(chuàng)建 USM Go方波脈沖選項 允許脈沖發(fā)生器對參數進行微調,電壓從120V調整到300V,步進為10V,

　　脈沖寬度可以從30ns到500ns,步進為10ns USM Go手動PRF和幻象波去除選項 允許在15赫茲到2000赫茲之間進行手動PRF優(yōu)化，步進為5赫茲。幻象PRF有助于確定低衰減材料中由多次反射引起的反?；夭?/p>

　　語言

　　俄語、葡萄牙語、意大利語、波蘭語、捷克語、英語、德語、法語、西班牙語、中文和日文

　　規(guī)格如有改動，不另行通知。